新研究發(fā)明了更經(jīng)濟的RFID 標簽開發(fā)方式

　　佐治亞技術(shù)機構(gòu)研究人員宣布他們開發(fā)出 RFID testbed，與目前的標簽設計過程的對比，這臺設備可以更經(jīng)濟、有效地測試新標簽模型。

　　這套系統(tǒng)核心是一個芯片仿真器，可仿效發(fā)出 RFID標簽芯片的信號。仿真器配備有天線，當設備受到RFID閱讀器刺激時，設備產(chǎn)生 RF信號。這種信號與含天線設計的 RFID標簽發(fā)出的信號一樣，可以被測量和分析，包括信號對周遭環(huán)境的反應。工程師采用不同天線來重復測試過程，以達到所期望的最終產(chǎn)品。

　　據(jù)研究人員 Durgin稱，新天線模型化方式與目前的 RFID標簽設計過程完全不同。普常方式利用計算機模擬，即工程師采用特殊的軟件來設計和測試標簽模型?！坝布抡姹溶浖抡鏈y試的范圍更廣。通過全方面的測試方式，我們可獲得芯片設計軟件包所不能實現(xiàn)利益。”

　　而且，如果標簽設計師希望物理測試新芯片，他們往往必須花上幾萬美元來購買半導體制造商生產(chǎn)的模型?！安捎梦覀兊膖estbed，你不必每次都花$30,000 或 $100,000來測試新型信號協(xié)議。"

　　Testbed的開發(fā)由國家科學基金會贊助。設備目前的工作頻率為915 MHz，研究人員希望實現(xiàn)更高頻段的應用，如5.7 GHz。實際上，這個項目長期的目標是研究和利用那些高頻段的 RF信號。