3D多天線 UHF RFID測試系統(tǒng)(暗室)

產(chǎn)品詳情：

3D多天線超高頻RFID標(biāo)簽綜合測試系統(tǒng)包括:
- 超高頻R F I D測試屏蔽室（JT-RFID Anechoic ROOM）
- 多天線超高頻R F I D集成測試儀（JT-RFID Integrated Tester）
- 多天線超高頻R F I D綜合測試軟件（JT-RFID Test Software）
- 測試配件（操作培訓(xùn)，保養(yǎng)支持服務(wù)，測試校準(zhǔn)標(biāo)簽等）

杰拓超高頻RFID測試暗室是方便和低成本的測試環(huán)境解決方案,為超高頻RFID標(biāo)簽量身打造的屏蔽測試環(huán)境。屏蔽箱內(nèi)有4個不同角度測試天線，自動旋轉(zhuǎn)馬達以及紅外攝像頭，不需要人工介入就可以對天線的擺放位置進行調(diào)整。配合杰拓多天線集成測試儀和軟件使用，只需一個按鈕，就能自動記錄下標(biāo)簽全方位的多天線測試反射特性和性能指標(biāo)。

杰拓多天線超高頻RFID集成測試儀是整個超高頻RFID綜合測試系統(tǒng)的核心。其集成了所有EPC C1G2所描述的標(biāo)簽讀寫能力，能夠快速準(zhǔn)確的進行輸出功率調(diào)節(jié)和標(biāo)簽讀寫測試。

杰拓多天線超高頻R F I D綜合測試軟件利用4個天線對單個標(biāo)簽進行最小功率、讀（或?qū)懀┚嚯x、靈敏度、場強、反向靈敏度、反向距離、以及雷達反射截面等測試。
對多標(biāo)簽測試是4個天線對多個標(biāo)簽進行最小功率、讀（或?qū)懀┚嚯x、靈敏度、場強、反向靈敏度、反向距離、以及雷達反射截面等測試。

杰拓綜合測試校準(zhǔn)標(biāo)簽用于測試系統(tǒng)校準(zhǔn)。校準(zhǔn)標(biāo)簽提供了860-960MHz 之間的標(biāo)簽靈敏度和反向靈敏度數(shù)據(jù)。與杰拓RFID綜合測試軟件配合使用，可以達到更好的測試精確度。


杰拓提供軟件使用培訓(xùn)，可以定制功能開發(fā)，以及定期軟件升級和硬件維護。