RFID產(chǎn)品折舊測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)

　　系統(tǒng)介紹

　　本系統(tǒng)將RFID技術(shù)應(yīng)用于產(chǎn)品老化測(cè)試監(jiān)控，基于2.45G RFID技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品在老化測(cè)試過程中的測(cè)試進(jìn)度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控等功能。

　　系統(tǒng)架構(gòu)

　　1. 將電子標(biāo)簽與各個(gè)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行關(guān)聯(lián)。

　　2. 當(dāng)待測(cè)產(chǎn)品(含2.45G RFID標(biāo)簽)進(jìn)入老化測(cè)試機(jī)房?jī)?nèi)時(shí)，無線接收器將產(chǎn)品開始測(cè)試時(shí)間記錄下來。

　　3. 后端系統(tǒng)通過產(chǎn)品老化測(cè)試原則比對(duì)測(cè)試區(qū)域中的各個(gè)產(chǎn)品，當(dāng)超過老化測(cè)試時(shí)間則閃爍電子標(biāo)簽的指示燈告知已經(jīng)測(cè)試完畢。

　　4. 系統(tǒng)可實(shí)時(shí)更新測(cè)試完成列表發(fā)送至測(cè)試管理人員即時(shí)處理。

　　系統(tǒng)特點(diǎn)

　　1. 避免產(chǎn)品老化測(cè)試時(shí)間誤差。

　　2. 提升老化測(cè)試效率。

　　1. 將電子標(biāo)簽與各個(gè)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行關(guān)聯(lián)。

　　2. 當(dāng)待測(cè)產(chǎn)品(含2.45G RFID標(biāo)簽)進(jìn)入老化測(cè)試機(jī)房?jī)?nèi)時(shí)，無線接收器將產(chǎn)品開始測(cè)試時(shí)間記錄下來。

　　3. 后端系統(tǒng)通過產(chǎn)品老化測(cè)試原則比對(duì)測(cè)試區(qū)域中的各個(gè)產(chǎn)品，當(dāng)超過老化測(cè)試時(shí)間則閃爍電子標(biāo)簽的指示燈告知已經(jīng)測(cè)試完畢。

　　4. 系統(tǒng)可實(shí)時(shí)更新測(cè)試完成列表發(fā)送至測(cè)試管理人員即時(shí)處理。

　　系統(tǒng)特點(diǎn)

　　1. 避免產(chǎn)品老化測(cè)試時(shí)間誤差。

　　2. 提升老化測(cè)試效率。