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金瑞銘科技攜手美國意聯(lián)科技推出UHF貼片封裝產(chǎn)品

作者:金瑞銘科技 供稿
日期:2014-05-16 14:12:22
摘要:2014年5月,深圳市金瑞銘科技攜手美國意聯(lián)科技推出基于ALIEN Higgs3和ALIEN Higgs4芯片兩種不同形式的封裝產(chǎn)品,以滿足客戶在不同環(huán)境下的應(yīng)用。

  2014年5月,深圳市金瑞銘科技攜手美國意聯(lián)科技推出基于ALIEN Higgs3和ALIEN Higgs4芯片兩種不同形式的封裝產(chǎn)品,以滿足客戶在不同環(huán)境下的應(yīng)用。

金瑞銘科技攜手美國意聯(lián)科技推出UHF貼片封裝產(chǎn)品金瑞銘科技攜手美國意聯(lián)科技推出UHF貼片封裝產(chǎn)品

  本次新推出的DFN和TSSOP封裝系列產(chǎn)品主要應(yīng)用于貼裝PCB電路板。DFN(雙側(cè)無引腳扁平封裝)是表面貼裝型封裝之一,封裝兩側(cè)配置有電極觸點,由于無引腳,貼裝占有面積比TSSOP/SOT小,高度比TSSOP/SOT低,尤其適用于對尺寸和厚度要求比較嚴(yán)格的環(huán)境。TSSOP是Thin Shrink Small Outline Package的縮寫,薄的縮小型小尺寸封裝。比SOP(Small Outline Package的縮寫,小尺寸封裝)更薄,引腳更密,封裝尺寸更小。

  為確保封裝產(chǎn)品的性能,UHF貼片系列產(chǎn)品(SMD)在出廠前經(jīng)過嚴(yán)格的測試,保證產(chǎn)品的數(shù)據(jù)可靠性和一致性。同時,經(jīng)過嚴(yán)格的可靠性與失效分析(包含,吸濕敏感度試驗,高壓蒸煮試驗,溫度循環(huán)試驗,溫濕度儲存試驗,高溫儲存試驗,高壓加快老化試驗,易焊性試驗,失效分析),確保產(chǎn)品在不同的應(yīng)用環(huán)境中的使用可靠性。

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