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影響RFID系統(tǒng)測(cè)試性能的幾大因素

作者:seuic_2008
日期:2019-10-21 17:46:34
摘要:RFID性能測(cè)試建議在空曠的環(huán)境中進(jìn)行,讀寫器天線與標(biāo)簽之間存在金屬或液體之類的障礙物、環(huán)境中存在與頻率接近的電磁干擾等都會(huì)影響測(cè)試性能。 首先要確認(rèn)測(cè)試環(huán)境中是否有金屬障礙物干擾,如金屬網(wǎng),密集的金屬網(wǎng)會(huì)對(duì)UHF信號(hào)產(chǎn)生屏蔽作用,造成較大衰減,導(dǎo)致無法讀取標(biāo)簽信息。

UHF RFID的系統(tǒng)由讀寫器、天線、RFID標(biāo)簽組成

因素1:讀寫器發(fā)射功率
讀寫器發(fā)射功率越大,讀寫距離相應(yīng)得也會(huì)增大。
因素2:讀寫器天線增益和波束寬度
天線增益越大,波束寬度越小,則讀寫距離越遠(yuǎn),范圍越窄,讀取的范圍控制越好。
因素3:讀寫器與標(biāo)簽的靈敏度
標(biāo)簽芯片與讀寫器的靈敏度均能影響到讀寫距離,靈敏度越高,可讀寫距離就會(huì)越遠(yuǎn)。
因素4:多標(biāo)簽數(shù)量
多標(biāo)簽環(huán)境下,單位時(shí)間內(nèi)RFID讀取的標(biāo)簽數(shù)量也會(huì)影響到讀寫器的多標(biāo)簽讀寫性能。
因素5:讀寫器對(duì)碰撞問題的處理算法
一般來說,標(biāo)簽存在以下兩種碰撞問題:
1. 多標(biāo)簽碰撞:多個(gè)標(biāo)簽與一個(gè)讀寫器通訊時(shí)產(chǎn)生的碰撞,出現(xiàn)此種情況時(shí)可以通過調(diào)整讀寫器自身的防碰撞算法來解決。
2. 多讀寫器碰撞:多個(gè)讀寫器同時(shí)與一個(gè)標(biāo)簽通訊時(shí)產(chǎn)生的碰撞,通過將讀寫器設(shè)置成不同的session(通話)和標(biāo)簽進(jìn)行通信或者測(cè)試時(shí)關(guān)閉其他讀寫器即可解決。
因素6:標(biāo)簽粘貼物材質(zhì)
金屬和液體會(huì)對(duì)電磁波產(chǎn)生影響,需要采用特殊設(shè)計(jì)的抗金屬標(biāo)簽和抗液體標(biāo)簽:
液體應(yīng)用——必須采用特殊設(shè)計(jì)的液體標(biāo)簽;
金屬表面——必須使用抗金屬標(biāo)簽;

如遇到這兩種材質(zhì)的標(biāo)簽也可以采用立標(biāo)——標(biāo)簽不直接粘貼到金屬或液體容器表面,芯片和天線部分與容器不接觸,同時(shí)在液體和金屬應(yīng)用中需要注意物品的擺放方式,堆疊過多會(huì)導(dǎo)致內(nèi)層讀取率低。

因素7:測(cè)試環(huán)境
RFID性能測(cè)試建議在空曠的環(huán)境中進(jìn)行,讀寫器天線與標(biāo)簽之間存在金屬或液體之類的障礙物、環(huán)境中存在與頻率接近的電磁干擾等都會(huì)影響測(cè)試性能。
首先要確認(rèn)測(cè)試環(huán)境中是否有金屬障礙物干擾,如金屬網(wǎng),密集的金屬網(wǎng)會(huì)對(duì)UHF信號(hào)產(chǎn)生屏蔽作用,造成較大衰減,導(dǎo)致無法讀取標(biāo)簽信息。

其次,如果在貨物滿倉(cāng)的庫(kù)房中則需要考慮貨物性質(zhì)(金屬、液體、服裝等)是否會(huì)影響電磁波,也需要避免多層堆放,同時(shí)RFID設(shè)備應(yīng)與其他物品保持距離,避免串讀。

以上是影響RFID系統(tǒng)測(cè)試性能的若干因素,如果您在測(cè)試過程中遇到性能受影響的情況,不妨對(duì)照檢查,希望能讓您的RFID測(cè)試過程更加順暢!