千兆科羅海濤：如何通過正確的測(cè)試保證RFID/NFC標(biāo)簽及讀寫器的品質(zhì)?

　　8月19日，由國際物聯(lián)網(wǎng)貿(mào)易與應(yīng)用促進(jìn)協(xié)會(huì)主辦，物聯(lián)傳媒承辦，深圳市物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)盟、廣東省物聯(lián)網(wǎng)公共技術(shù)支持中心協(xié)辦的2016深圳國際RFID世界應(yīng)用創(chuàng)新大會(huì)在深圳會(huì)展中心3號(hào)館成功舉辦。本次會(huì)議吸引了大量行業(yè)精英、專家學(xué)者參加。其中，深圳千兆科科技有限公司(CISC)市場(chǎng)及營(yíng)銷總監(jiān)羅海濤先生為與會(huì)者帶來了題為“如何通過正確的測(cè)試保證RFID/NFC標(biāo)簽及讀寫器的品質(zhì)?”的精彩演講。

深圳千兆科科技有限公司(CISC)市場(chǎng)及營(yíng)銷總監(jiān)羅海濤先生

　　據(jù)介紹，CISC成立于1999年，是100%私有制公司，擁有超過20年RFID工作經(jīng)驗(yàn)的國際頂尖團(tuán)隊(duì)管理，服務(wù)于全世界的RFID行業(yè)。

　　羅總指出，CISC RFID+NFC由長(zhǎng)期富有國際聲譽(yù)的RFID/NFC專業(yè)團(tuán)隊(duì)組成，通過其的解決方案能提升RFID/NFC產(chǎn)品及系統(tǒng)性能。CISC是一家測(cè)量工具供應(yīng)商，提供RFID及NFC規(guī)范性、性能及互通性測(cè)試。作為RFID領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)引領(lǐng)者，CISC在RFID標(biāo)準(zhǔn)中扮演的角色。

　　據(jù)悉，傳統(tǒng)RFID測(cè)試方式主要通過網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)和頻譜分析儀等設(shè)備組合實(shí)現(xiàn)，然而問題在于以“矢量信號(hào)源+示波器+頻譜分析儀+軟件等”方式，測(cè)試很復(fù)雜，價(jià)格也很貴。在技術(shù)上，獨(dú)立的測(cè)試儀器存在不少缺陷，例如：網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)的功率等級(jí)變換問題，不同指令的能量，輸入阻抗變化等;頻譜分析儀如何測(cè)試標(biāo)簽性能(激活功率、讀取范圍)、讀寫器接收靈敏度、讀寫器和標(biāo)簽仿真等。

　　針對(duì)以上的這些疑難問題，CISC帶來了RFID Xplorer。資料顯示，Xplorer是一臺(tái)多功能RFID測(cè)試設(shè)備，它可以進(jìn)行多種RFID性能測(cè)試，包括標(biāo)簽性能測(cè)試、規(guī)范性測(cè)試、讀寫器測(cè)試及Inlay測(cè)試等。

　　羅總指出，CISC RFID Xplorer是一套緊湊的高精度的RFID測(cè)量?jī)x器，可用于測(cè)量RFID設(shè)備和應(yīng)用裝置的性能、驗(yàn)證規(guī)范性，支持讀寫器、標(biāo)簽和芯片的開發(fā)，也可用于標(biāo)簽生產(chǎn)線的測(cè)量。Xplorer的主要特征為：高精密度、使用快捷方便、標(biāo)簽測(cè)試和讀寫器測(cè)試、全自動(dòng)化、自動(dòng)校準(zhǔn)、自控使用GUI或API功能、兼容單收發(fā)安裝。

　　在性能測(cè)試方面，Xplorer能提供標(biāo)簽的主要特性(激活功率、反向散射功率、讀取范圍、場(chǎng)強(qiáng)等)，標(biāo)簽存取測(cè)試，讀/寫內(nèi)存測(cè)試，分析多個(gè)標(biāo)簽，區(qū)域內(nèi)所有標(biāo)簽的庫存量，分析眾多標(biāo)簽中選出的標(biāo)簽，比較多個(gè)標(biāo)簽的性能，幫助用戶選擇產(chǎn)品的最佳點(diǎn)來安放標(biāo)簽。

　　在規(guī)范性測(cè)試方面，Xplorer用于預(yù)測(cè)量Gen2 V2、SINIAV、 ARTESP 和 Brasil_ID協(xié)議的規(guī)范性，擁有一套標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試序列。它支持芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證，其帶有豐富測(cè)試能力包括標(biāo)簽存取測(cè)試如讀/寫內(nèi)存測(cè)試、時(shí)序測(cè)量、頻率vs. 響應(yīng)強(qiáng)度測(cè)試和功率級(jí)別和其它測(cè)試。

　　在讀寫器測(cè)試(監(jiān)聽)方面，Xplorer在監(jiān)聽模式下用于分析讀寫器和標(biāo)簽之間的通信，讀卡器-標(biāo)簽通信的實(shí)時(shí)記錄，記錄帶寬高達(dá)50 MHz，進(jìn)行頻率分析、數(shù)據(jù)內(nèi)容分析，實(shí)現(xiàn)讀寫器指令和標(biāo)簽響應(yīng)的自動(dòng)檢測(cè)、讀寫器天線輻射模型測(cè)量。

　　在針對(duì)生產(chǎn)線測(cè)試時(shí)，Xplorer不只是Go/NoGo測(cè)試.，還能測(cè)試最小功率/讀取范圍或其他更多。

　　為了方便與會(huì)者更好的了解CISC Xplorer，羅總在會(huì)上還以幾個(gè)測(cè)試實(shí)例進(jìn)行了精要的應(yīng)用說明。

　　實(shí)例一，選擇正確的標(biāo)簽或Inlay來確保最佳的讀取率。指出了UHF RFID 標(biāo)簽測(cè)試步驟、基于頻率的靈敏度、讀取范圍、不同讀寫器的讀取范圍、不同地區(qū)的讀取范圍、方向變化的標(biāo)簽靈敏度、反向散射范圍、找到標(biāo)簽范圍的極限因素、臨界性能等幾個(gè)重要方面。

　　實(shí)例二，理解規(guī)范性及真實(shí)產(chǎn)品的不同。強(qiáng)調(diào)了全自動(dòng)規(guī)范性測(cè)試、測(cè)試報(bào)告New Gen2V2+Crypto、讀取時(shí)序、寫指令時(shí)序比較等幾個(gè)重要的問題。

　　實(shí)例三，通過快速識(shí)別讀寫器問題以節(jié)省時(shí)間。解釋了用戶要了解環(huán)境情況，知道讀寫器在做什么、參數(shù)是否正確、如何用ACK指令獲取EPC、ACK 時(shí)序和細(xì)節(jié)、通信詳情、寫指令細(xì)節(jié)、寫時(shí)間、讀寫器信號(hào)、用M=4及FM0獲取EPC等內(nèi)容。

　　實(shí)例四，讀寫器性能測(cè)試。主要包括RAIN RFID 規(guī)格、測(cè)試需求、讀寫器接收靈敏度。

　　實(shí)例五，NFC測(cè)試。NFC Xplorer 監(jiān)聽器 + 讀寫器測(cè)試系統(tǒng)能通過數(shù)據(jù)和信號(hào)分析、時(shí)序和RF細(xì)節(jié)分析來測(cè)試一致性。NFC Xplorer還是一臺(tái)標(biāo)簽/智能卡測(cè)試儀，可進(jìn)行NFC互操作性測(cè)試，分析失效原因、進(jìn)行性能優(yōu)化、互通性性能和性能比較。

　　最重要的是，CISC Xplorer所有的測(cè)試結(jié)果最終都匯集成一份完整的測(cè)試報(bào)告，讓用戶一目了然。

　　（rfid世界網(wǎng)獨(dú)家稿件，轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明來源作者?。?/b>