文章介紹了一種基于同軸線的適用于UHF 頻段RFID 近場天線(NFRA)的阻抗測量方法。首先同軸線直接和NFRA 的平衡輸出端口連接,得到含有NFRA 和同軸線的S 參數(shù);然后通過de-embedding 技術(shù)去除串聯(lián)同軸線的影響,從而得到天線的真實阻抗。在測量阻抗的基礎(chǔ)上,方便設(shè)計出將NFRA 匹配至50 歐姆的匹配電路。這種方法避免了由于頻率變化而引起的阻抗仿真誤差,最終的測量結(jié)果和仿真結(jié)果吻合良好,驗證了這種方法的準確性和有效性。