AdvanIDe發(fā)布Mifare克隆檢測(cè)工具

恩智浦的Pegoda II閱讀器

　　RFID標(biāo)簽和閱讀器的芯片供應(yīng)商AdvanIDe公司，推出了一個(gè)工具包，旨在幫助應(yīng)答器制造商、運(yùn)輸運(yùn)營(yíng)商和其他廠商，檢查標(biāo)簽或非接觸卡的芯片真實(shí)性，并確認(rèn)是否已被克隆。

　　NXP Mifare Classic 1K克隆檢測(cè)工具，包括恩智浦半導(dǎo)體的Mifare Pegoda II閱讀器(帶有一個(gè)SAM安全訪問模塊)，以及額外的測(cè)試卡和軟件，可以驗(yàn)證恩智浦Mifare Classic芯片的真實(shí)性。

　　根據(jù)AdvanIDe稱，如果IC已被克隆，它就會(huì)表現(xiàn)出性能不穩(wěn)定，讀寫距離也會(huì)相對(duì)縮減，這兩者都會(huì)讓假芯片現(xiàn)出原形。

　　AdvanIDe的這套工具現(xiàn)售價(jià)250美元，包括閱讀器、USB線、光盤(包含AdvanIDe的獨(dú)創(chuàng)性檢查軟件和文檔)，三張下一代Mifare Classic卡，和一個(gè)仿Mifare的樣卡。(RFID世界網(wǎng)編譯)

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